Supplied conductorsアプリケーション： ポスト処理する量
解析プロセス： 留意事項
Supplied conductorsアプリケーションの場合、解析プロセスは次の表に示すように2つのステップが必要となります。
| PEEC計算（アプリケーションには無関係） |
|---|
| 導体の各要素の抵抗および部分自己インダクタンス（R、L）の計算 導体のすべての並列要素間の部分相互インダクタンス（M）の計算 |
| 電流の計算 |
|---|
| 電気方程式の求解 ⇒ 各要素での電流の値 |
| ポスト処理 |
|---|
| 磁束密度、ジュール損失、ラプラス力など |
局所量
計算により求められる局所量を次の表に示します。
| 量 | 単位 | 説明 | |
|---|---|---|---|
導体内の電流密度：  |
複素ベクトル | A/m2 | |
磁束密度：  |
複素ベクトル | T | 解析的（または半解析的）：ビオ・サバール |
| 導体での電力損失密度（ジュール効果による）： dP | 実スカラー | W/m3 |  |
ラプラス力密度： 平均成分 |
実ベクトル | N/m3 |  |
ラプラス力密度： 脈動成分 |
複素ベクトル | N/m3 | |
全体量
計算により求められる全体量を次の表に示します。
| 量 | 単位 | 説明 | |
|---|---|---|---|
導体を流れる総電流：  |
複素スカラー | A |  |
| 導体での電力損失（ジュール効果による損失）P | 実スカラー | W |  |
導体上のラプラス力： 平均成分 |
実ベクトル | N |  |
導体上のラプラス力： 脈動成分 |
複素ベクトル | N | |