正弦波掃引疲労解析
正弦波荷重下の構造の疲労寿命の検討。
周波数依存の応力範囲を計算するために周波数応答解析からの周波数応答応力結果が使用され、それらは続いて掃引速度に基づく疲労損傷の計算に用いられます。
入力
正弦波掃引は、試験体の振動挙動を評価するために行われる振動試験としてよく知られた方法です。
- 周波数応答サブケースは、正弦波掃引疲労解析の実施に必要な入力正弦波振動プロフィールを提供します。
- すなわち、SR(掃引速度)およびSRUNIT(掃引速度単位)フィールドは、作成された各疲労イベントと共に指定されます。.
- 正弦波掃引疲労計算が実行される周波数は、SNまたはEN単軸コンテキストで指定されます。
- 静的サブケースは、平均応力補正のためのロードマップ内でイベントに追加することが可能です。
- 掃引数は、イベントと指定されるものとします(デフォルト= 1 Sweep)。掃引数は、1つの周波数のみが考慮される、もしくはSR = 0.0である場合、時間‘T’秒であると見なされます。
応力-寿命
周波数応答解析による周波数ベースの応力範囲出力を使用して、損傷-周波数カーブを作成します。
正弦波掃引疲労解析の鍵は、周波数当たりの発生するサイクル数を確認することです。続いて、特定の周波数でサイクル当たりの損傷の量を計算できます。これにその周波数でのサイクル数を掛けると、周波数当たりの損傷の合計が求まります。さらに、周波数範囲全体でのこの損傷の総和が、掃引当たりの損傷となります。複数の掃引の疲労損傷は、掃引当たりの損傷に掃引の数を掛けたものとなります。
ヘルツ / 秒単位の掃引速度(SRUNIT=HZPS)
- 対象の周波数値。
- 周波数応答サブケースの加振周波数範囲の初期周波数値。
- ヘルツ / 秒単位の掃引速度(ロードマップ内のFATLOADエントリのSRフィールド)。
- 正弦波掃引疲労において、応力範囲に周波数が適用される時間。
- 対象の周波数値。
- ヘルツ / 秒単位の掃引速度(ロードマップ内のFATLOADエントリのSRフィールド)。
特定の周波数での応力範囲のサイクル数がに等しいことがわかります。これを、任意の周波数で、周波数に関するサイクル数の変化率として定義することもできます。
- 右記の周波数におけるサイクル当たりの損傷;
- SNカーブの応力範囲に対応する損傷値。
ここで、は、周波数当たりの損傷です。
ここで、は、掃引当たりの損傷の合計です。
ここで、は、掃引の数です。
周波数応答サブケースで、SR=0.0(掃引なし)または1つの加振周波数のみが定義されている場合、損傷値はその特定の周波数に対して計算されます。SR=0.0の場合、周波数応答サブケースの最初の加振周波数が使用されます。周波数応答サブケースに単一の加振周波数入力がある場合、その特定の周波数が選択されます。そのような場合、損傷の合計は、周波数当たりの損傷に、イベントについて定義された合計時間T#を掛けた値となります。
オクターブ / 分単位の掃引速度(SRUNIT=OCTPM)
掃引速度がオクターブ / 分単位で定義されている場合、掃引速度の計算には、ヘルツ / 秒単位の計算とは異なる式が使用されます。
- 対象の周波数値。
- 周波数応答サブケースの加振周波数範囲の初期周波数値。
- オクターブ / 分単位の掃引速度(ロードマップ内のSRフィールド)。
- 正弦波掃引疲労において、応力範囲に周波数が適用される時間。
- 対象の周波数値。
- オクターブ / 分単位の掃引速度(ロードマップ内のFATLOADエントリのSRフィールド)。
特定の周波数での応力範囲のサイクル数がに等しいことがわかります(これを、任意の周波数で、単位周波数当たりのサイクル数として定義することもできます)。また、この式から、オクターブ / 分の場合、各周波数のサイクル数は周波数に依存しないことがわかります。したがって、すべての周波数のサイクル数は同じになります。
- 右記の周波数におけるサイクル当たりの損傷;
- SNカーブの応力範囲に対応する損傷値。
ここで、は、周波数当たりの損傷です。
ここで、は、掃引当たりの損傷の合計です。
ここで、は、掃引の数です。
周波数応答サブケースで、SR=0.0(掃引なし)または1つの加振周波数のみが定義されている場合、損傷値はその特定の周波数に対して計算されます。SR=0.0の場合、周波数応答サブケースの最初の加振周波数が使用されます。周波数応答サブケースに単一の加振周波数入力がある場合、その特定の周波数が選択されます。そのような場合、損傷の合計は、周波数当たりの損傷に、イベントについて定義された合計時間T#を掛けた値となります。
ひずみ-寿命
振動に基づく疲労に使用され、最も高い応力範囲によって生じる損傷に基づいて計算されます。
ひずみ-寿命疲労のプロセスは、応力-寿命のプロセスと同様で、サイクル数対応力範囲の特性評価が正弦波掃引による損傷の計算に使用されます。
振動解析では載荷と除荷のパス情報は失われるため、振動疲労でのひずみ-寿命アプローチは応力範囲ベースのデータの保守的な拡張となります。
この更新された応力ひずみサイクルデータを使用して、応力-寿命正弦波掃引疲労解析で同様に残りの正弦波掃引処理が続行されます。
更新された応力情報(前のセクションで説明したハンギング処理の結果)の効果を組み込むには、SWT損傷モデルまたはMorrow損傷モデルが使用されます。Morrow損傷モデルには更新された新しい内側のループの平均応力が使用され、SWT損傷モデルには更新された新しい内側のループの最大応力が使用されます。
- 右記の周波数におけるサイクル当たりの損傷;
- ENカーブのひずみと更新された平均応力に対応する損傷値
- 周波数当たりの損傷。
- 掃引当たりの損傷の合計。
周波数応答サブケースで、SR=0.0(掃引なし)または1つの加振周波数のみが定義されている場合、損傷値はその特定の周波数に対して計算されます。SR=0.0の場合、周波数応答サブケースの最初の加振周波数が使用されます。周波数応答サブケースに単一の加振周波数入力がある場合、その特定の周波数が選択されます。そのような場合、損傷の合計は、周波数当たりの損傷に、イベントについて定義された合計時間T#を掛けた値となります。
正弦波掃引疲労解析の現在のサポート
- フォンミーゼスのみが応力の組み合わせでサポートされています。
- 単軸疲労解析のみがサポートされています。
- ソリッド要素およびシェル要素についてSNとENがサポートされています。
- 1つの正弦波掃引イベントに使用できるのは、1つのFRFサブケースのみです。