3Dの例：非破壊試験（技術文書）

前書き

このパラグラフは、技術文書：“非破壊試験”でスタディしているケースの要約です。

このスタディ対象ケースに関連するファイルは、Flux DVDのドキュメントディレクトリにあります。

実行するスタディ

技術文書“非破壊試験”で提示されているスタディは、プレートの欠陥をプローブで検出する渦電流探傷検査のモデリングです。

スタディ対象の非破壊試験問題

下の図に示す解析対象デバイスは以下の要素で構成されています：

動作原理

インコネルのブロックに欠陥があります（上の図に四角の枠で示した部分）。巻線方向を互いに逆にした2つの通電コイルで構成した差動プローブを、ブロックの表面上で移動します。この2つのコイルが試験試料の欠陥のない領域を通過するときは、両方のコイルが同じ材料を検査しているため、コイルに差動信号が発生しません。しかし、どちらかのコイルが欠陥部分の上を通過すると差動信号が発生します。

スタディ対象ケース

Steady State AC Magneticアプリケーションを使用して以下のケースが実行されます：

• メインのケース： 差動プローブを使用してプレートの平面欠陥を検査します。
• 補足ケース：

• ケース1： 絶対値プローブを使用してプレートの交差欠陥を検査します。
• ケース2： ベンチマーク問題8
• ケース3： 差動ボビンコイルを使用してチューブを検査します。
• ケース4： 絶対値プローブを使用してプレートの三角形欠陥を検査します。

メインのケース

メインのケースでは、差動プローブを使用してプレートの平面欠陥をEC検査します。

このスタディは、内部に平面平行欠陥があるプレートを対象とした渦電流探傷検査のモデリングを記述します。この検査には、円筒形のフェライト磁心を持つ2つのコイルで構成した差動プローブを使用します。

補足ケース1

1番目のケースでは、絶対値プローブを使用してプレートの交差欠陥をEC検査します。

このスタディは、交差欠陥があるプレートを対象とした渦電流探傷検査のモデリングを記述します。この検査には絶対値プローブを使用します。

2番目のケースはベンチマーク問題8です。

このスタディは、国際的なベンチマーク問題のひとつ（TEAM WORKSHOP Problem 8）であり、薄い内部欠陥があるプレートを対象とした渦電流探傷検査のモデリングを記述します。この検査には、分離した機能を備えた差動プローブを使用します。

補足ケース3

3番目のケースでは、差動ボビンコイルを使用してチューブの平面欠陥をEC検査します。

このスタディは、内部に平面平行欠陥があるチューブを対象とした渦電流探傷検査のモデリングを記述します。この検査には差動ボビンコイルを使用します。

補足ケース4

4番目のケースでは、絶対値プローブを使用してプレートの三角形欠陥をEC検査します。

このスタディは、内部三角形欠陥があるプレートを対象とした渦電流探傷検査のモデリングを記述します。この検査には絶対値プローブを使用します。