2D平面 / 軸対称スタディ、3Dスタディ
予備的考察
デバイスの記述を始める前に、以下の疑問を解決しておく必要があります:
- このデバイス上で実行可能なスタディのタイプは何か
- 使用すべきアプリケーションは何か:2Dとするか3Dとするか
さまざまなスタディタイプ
スタディタイプは次のように分類できます。
スタディタイプ | デバイスの特徴 | 幾何学的表現 |
---|---|---|
2D平面 | 一方向に無限に長いことが想定できるデバイス | 断面での表現 |
2D軸 対称 |
軸を中心とした回転対称性があるデバイス | 断面での表現 |
3D | 指定なし | 全体での表現 |
2D平面スタディ: 特徴
一方向に無限に長いことが想定できるデバイスでは2D平面スタディを実行できます。
このようなデバイスの幾何学的表現は、無限に長い方向に垂直な断面を対象とします。
デバイスの奥行きを物理的レベルで考慮して、力やエネルギーなどの全体量を計算します。
例
2D平面スタディ: 作業の前提条件
作業の前提条件:
デバイスは一方向(奥行き方向)に無限に長いと想定します。
磁束は断面に集中し、3番目の方向(奥行き方向)で末端での効果(磁束の漏洩)はありません。
これらの作業の前提条件に可能な解釈:
- デバイスの奥行きを基準とした空隙の厚みは薄い。
- 3番目の方向の漏洩はない。
例:2D平面スタディまたは3Dスタディの選択基準
以下の図に2つのデバイスを示します。この2つのデバイスは、幾何学的観点からは同じサポート上に構築されていますが、物理的観点から見た機能は異なります。
デバイスの構成要素:
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デバイスの構成要素:
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長いデバイスであるが、3D効果が重要(端部で漏洩がある) | 長いデバイスおよび磁気回路に集中した磁束 |
2Dまたは3Dの選択に関する検討:
-
幾何学的観点からの検討:
この2つのデバイスは断面で記述できます。したがって、どちらの状況でも2Dスタディを検討できます。
- 物理的観点からの検討:
- 1番目のデバイスでは、反対方向の磁石に起因して、デバイスの背面と前面で顕著な磁束漏洩があるので3Dスタディが推奨されます。
- 2番目のデバイスでは、インダクタによって同じ方向の磁束が形成されるので2Dスタディが推奨されます。磁束が磁気回路に厳格に閉じ込められるので、スタディの対象は断面のみとなります。
3Dスタディ
このタイプのスタディでは、任意の形状を表現できますが、その表現はソフトウェアの能力に制限されます。
2D軸対称スタディ: 特徴
デバイスに1本の軸を中心とする回転対称性がある場合は、2D軸対称スタディを実行できます。
断面でデバイスを幾何学的に表現します。
形状の回転軸は必ず垂直方向として、座標系の原点を通る必要がある点に注意します。
実行するのは2Dスタディ(平面の幾何学的表現)ですが、事実上、3Dスタディを扱うことになります。デバイス全体をモデル化し、デバイスの全体積に相当する全体結果を取得します。
例
アプリケーションの選択
Supervisorレベル(Flux 2DまたはFlux 3Dの各タブ)でアプリケーション(2Dまたは3D)を選択します。