FATSEQ
バルクデータエントリ 疲労解析での荷重の順序を定義します。
フォーマット
| (1) | (2) | (3) | (4) | (5) | (6) | (7) | (8) | (9) | (10) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| FATSEQ | ID | ||||||||
| FID1 | N1/T1 | FID2 | N2/T2 | FID3 | N3/T3 | FID4 | N4/T4 | ||
| FID5 | N5/T5 |
定義
| フィールド | 内容 | SI単位の例 |
|---|---|---|
| ID | それぞれのFATSEQカードには固有のIDが必要です。FATSEQサブケース情報エントリによってこの識別子が参照される場合があります。また、このIDは他のFATSEQ定義からも参照される場合があります。 デフォルトなし（整数 > 0） |
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| FID# | FATSEQまたはFATEVNTエントリの識別番号。 2 デフォルトなし（整数 > 0） |
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| N# | この荷重順序またはイベントが繰り返される回数。繰り返し回数（N#）は、安全率（FOS）解析の結果には影響しません。 正弦波掃引疲労解析の場合、N#は、対応するFID#参照の掃引回数を表します。 デフォルト = 1（整数 > 0） |
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| T# | ランダム荷重サンプルの初期ソースの合計露出時間。 3 正弦波掃引疲労解析では、単一の周波数のみが考慮されている場合（または掃引速度が0.0に設定されている場合）、T#は秒単位の時間を表します。 デフォルト = 1.0 （実数 > 0.0） |
コメント
- FATSEQとFATEVNTエントリの識別番号は同じIDプールを共有します。
- 疲労サブケースは、FATSEQとFATEVNTエントリを通して同じサブケースタイプを参照する必要があります（例えば、静的サブケースまたは過渡サブケースのいずれかを参照できますが、両方は参照できません）。サブケースタイプの組み合わせを参照することは許可されていません。
- 対応するT#フィールドを使用して、個々のFATEVNTに対して合計露出時間が定義されます。
- HyperMeshでは、このカードは荷重コレクターとして表されます。