PFATSDR

バルクデータエントリはんだ疲労解析のプロパティを設定します。

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PFATSDR	`ID`	`C4GAMMA`	`K1`	`K2`	`K3`	`K4`

定義

フィールド	内容	SI単位の例
`ID`	エントリの識別番号。各PFATSDRエントリには一意の`ID`が割り当てられている必要があります。この値は、FATDEFサブケース情報エントリで参照されます。デフォルトなし（整数 > 0）
`C4GAMMA`	はんだ疲労の経験的モデル定数。デフォルトなし（実数 > 0）
`K1`	Darveaux法による亀裂発生方程式の定数。 2 デフォルトなし（実数）
`K2`	Darveaux法による亀裂発生方程式の定数。デフォルトなし（実数）
`K3`	Darveaux法による亀裂成長方程式の定数。 2 デフォルトなし（実数）
`K4`	Darveaux法による亀裂成長方程式の定数。デフォルトなし（実数）

C4GAMMAを使用して、DIFFCTE法によるはんだ接続部のひずみ範囲を次の式で計算します。(1)
$Δ γ = C \frac{L_{D}}{h_{s}} Δ α Δ T$

ここで、

$L_{D}$

コンポーネントの長さ。

$α$

熱膨張係数（CTE）。

$h_{s}$

はんだ接続部の高さ。

$Δ α = C T E_{p} - C T E_{c}$

PCBの熱膨張係数とPCBにはんだ付けした部品の熱膨張係数との差。

$T$

入力温度。

$Δ T = T_{p} - T_{c}$

PCBの温度とPCBにはんだ付けした部品の温度との差。

$C$

はんだ疲労の経験的モデル定数（C4GAMMAフィールドで指定）。鉛フリーはんだ接続タイプの場合、この値は $\frac{1}{\sqrt{2}}$ になります。BGAタイプでは、この経験的モデル定数をユーザーが設定できます。

詳細については、はんだ疲労解析をご参照ください。
K1とK3は、はんだ接続部をどのようにモデル化しているかに依存します（はんだ接続境界の厚みやクリープ構成モデルなど）。したがって、K1とK3は材料定数ではありません。K1とK3の単位は、FATPARMで指定した長さと応力の単位と同じにする必要があります。K1の寸法は、サイクル数/応力^K2です。K3の寸法は、（サイクル当たり長さ）×（1/応力^K4）です。例えば、FATPARMで長さの単位と応力の単位にそれぞれmmとMPaを指定している場合、K1とK3の単位はそれぞれサイクル数/MPa^K2および（mm/サイクル）×（1/MPa^K4）とする必要があります。
これらの定数を次の方程式で使用すると、はんだ接続部の寿命（N）を求めることができます。
- 亀裂発生：(2)
  $N_{0} = K_{1} Δ W_{a v e}^{K_{2}}$
- 亀裂成長：(3)
  $\frac{d a}{d N} = K_{3} Δ W_{a v e}^{K_{4}}$
- 寿命：(4)
  $N = N_{0} + \frac{a}{\frac{d a}{d N}}$
ここで、αは、FATSDRで設定した、境界での接続部直径です。

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